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    1. 18 2014-02

      變壓器掃描測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法
      1.上下限問(wèn)題用戶(hù)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)待測(cè)變壓器某些測(cè)量值嚴(yán)重不合要求，但判斷表格中仍然顯示該參數(shù)合格。原因分析：用戶(hù)在該參數(shù)極限設(shè)置過(guò)程中設(shè)置了標(biāo)稱(chēng)值（STD)但沒(méi)有設(shè)置上下限值或是上下限值只設(shè)置了一個(gè)。解決方案：在該參數(shù)極限設(shè)置菜單中設(shè)定上下限即可。2.不測(cè)量問(wèn)題用戶(hù)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)待測(cè)變壓器某些參. . .

    2. 18 2014-02

      電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正
      電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正功能能消除與被測(cè)元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開(kāi)路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開(kāi)路校正和對(duì)所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。特別注意：當(dāng)進(jìn)行開(kāi)路校正時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具連接到電容測(cè)試儀儀器測(cè)試端。夾具開(kāi)路，不連接到任何被測(cè)元件。按軟鍵ON，使開(kāi)路校正有效，電容測(cè)試儀儀器將. . .

    3. 21 2014-04

      選擇合適的測(cè)試夾具的重要性
      選擇測(cè)試夾具，和選擇合適的測(cè)試設(shè)備一樣重要。Agilent提供了大量的配件，用于軸向，徑向和SMD/芯片器件的測(cè)試。此外，Agilent還提供了各種各樣的測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)，用來(lái)簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程測(cè)試和應(yīng)用，以及帶有安全封裝的外置的測(cè)試夾具。合適的測(cè)試夾具，將從以下幾方面改善您的測(cè)試1.更具可靠性和可重復(fù)性2.更高的測(cè). . .

    4. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋常用測(cè)試夾具***
      有了LCR數(shù)字電橋，還需要選擇一款合適的測(cè)試夾具才能滿(mǎn)足您的測(cè)試需求。LCR數(shù)字電橋，顧名思義是用來(lái)測(cè)試電阻，電容，電感的儀器，而每一種不同的元件封裝形式是不一樣的，比如：貼片的，插件的，軸向的，徑向的，低阻抗的，高阻抗的。下圖列出了常州致新適應(yīng)與LCR數(shù)字電橋的常用***夾具。. . .

    5. 21 2014-04

      熱敏電阻的工作原理及測(cè)量
      熱敏電阻將長(zhǎng)期處于不動(dòng)作狀態(tài)；當(dāng)環(huán)境溫度和電流處于c區(qū)時(shí)，熱敏電阻的散熱功率與發(fā)熱功率接近，因而可能動(dòng)作也可能不動(dòng)作。熱敏電阻在環(huán)境溫度相同時(shí)，動(dòng)作時(shí)間隨著電流的增加而急劇縮短；熱敏電阻在環(huán)境溫度相對(duì)較高時(shí)具有更短的動(dòng)作時(shí)間和較小的維持電流及動(dòng)作電流。1、ptc效應(yīng)是一種材料具有ptc(positi. . .

    6. 21 2014-04

      用濾波器測(cè)試儀測(cè)試共模電感的優(yōu)勢(shì)
      共模電感(CommonmodeChoke)，也叫共模扼流圈，常用于電腦的開(kāi)關(guān)電源中過(guò)濾共模的電磁干擾信號(hào)。在板卡設(shè)計(jì)中，共模電感也是起EMI濾波的作用，用于抑制高速信號(hào)線(xiàn)產(chǎn)生的電磁波向外輻射發(fā)射。共模電感實(shí)質(zhì)上是一個(gè)雙向?yàn)V波器：一方面要濾除信號(hào)線(xiàn)上共模電磁干擾，另一方面又要抑制本身不向外發(fā)出電磁干擾. . .

    7. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋測(cè)試信號(hào)檢測(cè)功能的巧妙應(yīng)用
      使用LCR數(shù)字電橋測(cè)量有些電感和陶瓷電容時(shí)，了解施加于被測(cè)件2端的電平是十分重要的。實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平（電壓或電流）與LCR數(shù)字電橋信號(hào)源內(nèi)阻，被測(cè)件阻抗，頻率，電壓都有關(guān)，雖然用戶(hù)設(shè)置的電平相同，若信號(hào)源阻抗不同，實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平就不同。如何知道加在被測(cè)件上的實(shí)際電壓和電流呢？致新精. . .

    8. 21 2014-04

      直流電阻測(cè)試儀如何正確清零
      在使用小量程（比如20mΩ和200mΩ）時(shí)，為保證直流電阻測(cè)試儀測(cè)試精度，必須正確清零。由于直流電阻測(cè)試儀儀器采用了四端測(cè)量法，所以使用者在清零時(shí)，一定要使直流電阻測(cè)試儀儀器的Hucr端和Lcur端直接接觸，Hpot端與Lpot端直接接觸。具體地說(shuō)：使兩個(gè)測(cè)試夾有引出測(cè)試線(xiàn)的兩金屬片直接接觸，無(wú)引出. . .

    9. 21 2014-04

      電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正
      電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正功能能消除與被測(cè)元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開(kāi)路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開(kāi)路校正和對(duì)所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。特別注意：當(dāng)進(jìn)行開(kāi)路校正時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具連接到電容測(cè)試儀儀器測(cè)試端。夾具開(kāi)路，不連接到任何被測(cè)元件。按軟鍵ON，使開(kāi)路校正有效，電容測(cè)試儀儀器將. . .
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